Instructivo que define la metodología para realizar el aseguramiento metrológico de los instrumentos y equipos que pertenecen a los laboratorios y plantas piloto del ICP

Abstract

El documento se encuentra organizado de la siguiente manera: en primera instancia describe la investigación realizada y, se plantean los objetivos de este trabajo. En una segunda fase se realiza el 50% de las actividades (objetivos), el cual tiene un desarrollo que se divide en: primero la verificación y el cumplimiento de la norma NTC-ISO 10012:2003 “Sistemas de gestión de la medición. Requisitos para los procesos de medición y los equipos de medición”, respecto al manual de sistema de gestión de calidad de metrología GTN-M-001 basada en la norma NTC-ISO/IEC 17025:2017 “Requisitos generales para la competencia de los laboratorios de ensayo y de calibración” y posteriormente se identifican mejoras para luego ser evaluadas e implementadas. Y finalmente en una tercera etapa, ya identificado el análisis y las opciones de mejora, se lleva a cabo la implementación del protocolo o instructivo de aseguramiento metrológico para los instrumentos y equipos de los laboratorios y plantas piloto del ICP.

Finalmente se concluye con la revisión y actualización del instructivo GTN-I-528 V4 “Instructivo para la determinación de intervalos de calibración del Equipamiento en el Centro de Innovación y Tecnología - ICP”, posteriormente se actualiza el documento GTN-F-897 Formato para la determinación de intervalos de calibración de equipamiento en el Centro de Innovación y Tecnología – ICP, acorde al desarrollo del instructivo GTN-I-528 V4. Se realizaron pruebas de funcionamiento para instrumentos como Termopar y manómetros de carátula, adicionalmente la representación para curvas de ajuste para las calibraciones. Con las pruebas se valida la aplicación para aproximadamente 800 instrumentos del plan de calibración en el Centro de Innovación y Tecnología – ICP. Considerando que el formato debe ampliarse su alcance a los demás tipos de instrumentos o equipos que el área de Metrología requiera.